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3D Imaging and Measurement – Optics Circle

供稿:张启灿    责任编辑:陈慧媛    时间:2016-09-23    阅读:

Prof.Anand Krishna Asundi

Nanyang Technological University, Singapore

时间:2016年9月30日,9:0: 00-10: 30

地点:基础教学楼A座317

Anand Asundi毕业于印度理工学院,获得博士学位。来自纽约州立大学。现任南洋理工大学先进材料研究中心教授,副主任。他的研究兴趣是光学机械和光学传感器。他在同行评审的期刊上发表了200多篇论文。他是SPIE的光学和工程激光以及董事会的编辑。他还是亚洲实验力学委员会主席和智能和纳米材料亚太委员会主席,两人都是他共同创立的。

Abstract:3D测量和检测是一个需求和兴趣不断增长的领域。我们需要测量透明或反射的粗糙和光滑物体,分辨率范围从纳米到毫米。虽然没有一种方法可以实现所有这些功能 - 但是已经出现了计量方法的演变,从使用几何光学原理(如条纹投影和反射测量法)到干涉测量方法(如数字全息术)和返回非干涉测量方法(如强度传输)开始和光场。在这次演讲中,教授,使用可用的技术和系统,沿着这条历史路径发展。